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電子電工高溫低溫試驗方法可程式高低溫試驗箱
點擊次數(shù):610 更新時間:2023-10-17

電子電工高溫低溫試驗方法可程式高低溫試驗箱:

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高溫測試:是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間;

高溫測試分為:高溫工作、高溫啟動、高溫貯存。

低溫測試:是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

低溫測試分為:低溫工作、低溫啟動、低溫貯存。

高低溫測試的試驗程序:

1、將樣品進行試驗前的檢測,確保性能功能完好;

2、將受試樣品放進溫度箱,擺放在中間位置,電源線信號線從溫箱的出口出來,和輔助設(shè)備搭接完成;

3、開啟溫度箱控制程序,設(shè)定溫度點,保持時間,溫度變化速率等條件,確認各事項準備完畢后,開啟試驗程序。

4、試驗中的檢查,觀察受試樣品是否處于正常工作狀態(tài)。

5、試驗后最后檢查,若是貯存試驗,試驗后觀察產(chǎn)品的性能和功能是否發(fā)生改變。

高低溫測試檢測標準:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫 GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫 GB/T 2423.2-2008 ,IEC 60068-2-2:2007

包裝 運輸包裝件基本試驗 第 2 部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2-2005,ISO 2233:2000

汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件 QC/T 413-2002

道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗 第 4 部分:氣候負荷 GB/T 28046.4-2011,ISO 16750-4:2006

裝備實驗室環(huán)境試驗方法 低溫試驗 GJB150.4A-2009

通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB367A-2001

計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

軌道交通 機車車輛電子裝置 IEC60571:2006

軌道交通 機車車輛電子裝置 EN 50155:2017

測試周期:

低溫貯存24小時

高低溫工作4小時或2小時

高溫貯存48小時

高低溫啟動2小時或1小時